数字集成电路设计中的硬件加速验证技术

• 作者: 徐向阳 胡力佳 马琪
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 验证 硬件加速验证技术 仿真器 数字集成电路设计
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 工控技术
• 页码范围: 145-147
• 页数: 3页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.11.050

摘要

在芯片规模指数式上升和要求面市时间快速缩短的双重压力下,验证已成为数字集成电路设计的瓶颈.利用硬件加速验证技术能很好地解决这一问题.该文论述了硬件加速验证系统的工作原理和组成结构,通过与传统HDL仿真器的比较证明了其优势,并以Aldec公司硬件加速验证工具HES为例说明了硬件加速验证的验证流程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐向阳	杭州士兰微电子股份有限公司设计所	2	13	1.0	2.0