运算放大器的低频噪声测试方法

• 作者: 吴勇 庄奕琪
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 运算放大器 低频噪声测试 可靠性
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 技术论文
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN72
• 字数: 2232字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2004.06.003

摘要

运算放大器广泛应用于电路设计中,其可靠性指标直接影响电路系统的性能.运放器件的低频噪声特征同其性能及可靠性指标密切相关.本文中详细给出了运放器件低频噪声的测试方法并对测试过程中的若干关键问题进行了深入剖析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄奕琪	西安电子科技大学微电子研究所	183	1168	15.0	22.0
2	吴勇	西安电子科技大学微电子研究所	11	64	5.0	8.0