X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、SiO2、P和S

• 作者: 张洪志 蒋薇
• 来源期刊: 山东冶金
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 熔融法 萤石
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 61-63
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1825字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4620.2004.05.024

摘要

采用熔融法制样,通过条件实验找出最佳熔融条件和测定条件,采用标准样品和合成标样绘制校准曲线,用X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、SiO2、P和S的含量.测量结果与标样标准值、未知试样化学分析值相符,CaF2、SiO2、P和S的相对标准偏差分别为0.19%、0.49%、7.55%和3.18%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋薇	济南钢铁集团总公司技术监督处	5	15	2.0	3.0
2	张洪志	济南钢铁集团总公司技术监督处	1	9	1.0	1.0