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单片机在抗干扰测试仪中的应用
单片机在抗干扰测试仪中的应用
作者:
王立明
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
单片机
抗干扰测试仪
EMC测试
电磁兼容性
脉冲
摘要:
抗干扰测试仪能对各种电子仪器进行EMC(电磁兼容性)测试,本文介绍了用单片机开发的高频信号抗干扰测试仪的原理,硬件结构及软件实现方法.
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篇名
单片机在抗干扰测试仪中的应用
来源期刊
测控自动化
学科
工学
关键词
单片机
抗干扰测试仪
EMC测试
电磁兼容性
脉冲
年,卷(期)
ckzdh_2004,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
43-44
页数
2页
分类号
TP273.5
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王立明
上海梅陇路130号华东理工大学自动控制系
2
5
1.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
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2004(0)
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研究主题发展历程
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抗干扰测试仪
EMC测试
电磁兼容性
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研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
测控自动化
主办单位:
中国计算机用户协会自动控制分会主办
出版周期:
月刊
ISSN:
1008-0570
CN:
开本:
出版地:
北京海淀区皂君庙14号院鑫雅苑6号楼60
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
668
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