一种用于机电产品测试性设计的传感器优选MINLP模型

• 作者: 刘冠军 杨国锋 邱静 钱彦岭
• 来源期刊: 国防科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 传感器的优选 MINLP模型 测试性设计
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 机电工程·应用数学
• 页码范围: 103-106
• 页数: 4页
• 分类号: TP274.2
• 字数: 2715字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2486.2004.03.022

摘要

在单故障假设条件下,考虑了传感器的失效概率和设备的故障率,提出一种以故障检测率和故障隔离率为约束条件的降低传感器费用和失效概率的混合整数非线性规划(MINLP)模型,从而为机电产品测试性设计中传感器选择问题提供了一种可行和有效的解决方法,并进行了案例验证,说明了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱静	国防科技大学机电工程与自动化学院	115	1406	22.0	30.0
2	刘冠军	国防科技大学机电工程与自动化学院	88	860	18.0	23.0
3	钱彦岭	国防科技大学机电工程与自动化学院	37	299	10.0	16.0
4	杨国锋	国防科技大学机电工程与自动化学院	1	2	1.0	1.0