同位素吸水剖面测井影响因素分析

• 作者: 刘传政 周江鸿 段艳丽
• 来源期刊: 测井与射孔
• 学科: 工学
• 关键词: 同位素 解释精度 蚀变 测井资料 深度 校正 套管 吸水剖面测井 管柱 地层污染
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 页码范围: 17-18
• 页数: 2页
• 分类号: TE272

摘要

同位素吸水剖面测井受诸多因素的影响，各种影响因素都会对资料的解释精度产生一定的影响。根据大量的测井资料对同位素套管污染、地层污染、同位素颗粒密度、同位素释放深度及时间、测井时间、施工方式、管柱腐蚀变形等进行了探讨分析，对各种影响因素的识别与校正提出了相应的方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段艳丽		4	0	0.0	0.0
2	刘传政		2	0	0.0	0.0
3	周江鸿		1	0	0.0	0.0