点聚焦透镜天线及分辨率的分析与测量

• 作者: 何昌委 刘述章
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: 点聚焦透镜天线 横向空间分辨率 散焦技术 焦斑
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 72-76
• 页数: 5页
• 字数: 2067字
• 语种: 中文

摘要

本文分析了点聚焦透镜天线的一些基本特性,采用波动理论方法分析了电磁波经透镜会聚的焦斑的大小和横向空间分辨率,指出点聚焦透镜天线在会聚点的天线特性与相同场分布的平面口径天线在无穷远处的天线特性的关系,提出了透镜天线的分辨率的一种测量方法和使用条件.通过实测,测量结果和理论较为吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘述章	电子科技大学物理电子学院	9	98	7.0	9.0
2	何昌委	电子科技大学物理电子学院	2	9	2.0	2.0