微电阻率扫描成像测井在裂缝性地层的应用

• 作者: 丁松林 于辉
• 来源期刊: 测井与射孔
• 学科: 工学
• 关键词: 微电阻率 地层特征 成像测井技术 裂缝性 扫描 储层性质 地应力 井壁
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TE348

摘要

地层微电阻率扫描测井是新一代成像测井技术的代表，具有极高的分辨率，能直观的反映井壁的电阻率变化，通过成像的方式反映地层特征。地层微电阻率扫描成像在构造识别方面发挥着重要作用，同时，在储层性质的评价和地应力分析方面也有着广泛的应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于辉		1	0	0.0	0.0
2	丁松林		1	0	0.0	0.0