微波消解—钼蓝光度法测定高纯氧化铝中二氧化硅的含量

• 作者: 任凤莲 李瑾 游玉萍 王淑华 石磊
• 来源期刊: 铝镁通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 高纯氧化铝 二氧化硅 杂多酸 硫酸介质 络合物 钼酸铵 微波消解技术 钼蓝光度法 比耳定律 测定
• 年，卷（期）: lmtx_2004,（4）
• 页码范围: 34-35
• 页数: 2页
• 分类号: TF046.4

摘要

采用微波消解技术溶样．在pH=0．8～1．0的硫酸介质中．硅与钼酸铵生成硅钼杂多酸．络合物在810nm处有最大吸收．表观摩尔吸光系数为7．40×10^4L·mol^-1·cm^-1，二氧化硅含量在0～12．5ug／50mL范围内符合比耳定律。该方法选择性好．灵敏度高．适用于高纯氧化铝中0．0001％～0．010％二氧化硅含量的测定。