6σ设计水平的评价

• 作者: 王少熙 蒲建斌 贾新章
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 6 σ设计 百万机会缺陷数 工艺成品率 正态分布
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 22-25
• 页数: 4页
• 分类号: TB115
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.02.006

摘要

在介绍6σ设计概念和目标的基础上,给出设计水平与百万机会缺陷数(DPMO)关系的计算表达式和关系曲线,并开发了计算机模块,能自动计算与不同设计水平对应的DPMO值,也可以根据实际的DPMO值,自动评价达到的设计水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾新章	西安电子科技大学微电子所	63	572	14.0	20.0
2	王少熙	西安电子科技大学微电子所	8	61	5.0	7.0
3	蒲建斌	西安电子科技大学微电子所	2	13	2.0	2.0