成败型产品的Bayes鉴定试验方案研究

• 作者: 姜礼平 张志华
• 来源期刊: 海军工程大学学报
• 学科: 数学
• 关键词: 可靠性增长模型 最大后验风险 鉴定试验方案
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 9-13
• 页数: 5页
• 分类号: O213.2
• 字数: 3741字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3486.2004.01.003

摘要

利用可靠性增长模型给出了成败型产品鉴定试验的一种Bayes方法.提出了Bayes鉴定试验的最大后验风险准则,利用这种准则制定的鉴定试验方案综合了产品研制过程中的先验信息.在确保产品质量的前提下,与传统的鉴定试验方案相比,将大大节省试验时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张志华	海军工程大学基础部	125	762	13.0	21.0
2	姜礼平	海军工程大学基础部	80	573	12.0	17.0