研制阶段的成败型产品可靠性Bayes评估

• 作者: 刘晗 郭波
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性评估 贝叶斯方法 二项分布 混合验前分布 继承因子
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 25-29
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2006.05.007

摘要

研究了研制阶段的成败型产品可靠性的Bayes评估问题.针对当前可靠性评估方法中,经典统计方法无法利用历史信息,而传统Bayes方法又存在对历史信息与现场信息不加区分的缺陷,提出了研制阶段成败型产品可靠性评估模型.模型使用混合验前分布,并用历史样本与现场样本的拟合优度来确定混合分布中的继承因子,这样合理性就很容易得到解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭波	国防科技大学信息系统与管理学院	139	1675	21.0	33.0
2	刘晗	国防科技大学信息系统与管理学院	5	56	4.0	5.0