可靠性评估中指数型数据向成败型数据的折合

• 作者: 彭道勇 朱三可 李祥臣 齐俊臣
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性评估 数据折合 指数分布
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 167-169
• 页数: 3页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.037

摘要

本文讨论了在复杂产品可靠性评估过程中经常遇到的可靠性串、并联模型下指数型试验数据折合为成败型等效数据的方法,包括了同级别折合和低级别向高级别的折合,并给出了这些方法的推导过程.