半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声

• 作者: 张素梅 李靖 王雪丹 石家纬 石英学 郭树旭
• 来源期刊: 吉林大学学报（理学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光器 噪声 退火
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 电子科学
• 页码范围: 600-602
• 页数: 3页
• 分类号: TN365
• 字数: 1883字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-5489.2004.04.027

摘要

在环境温度和工作电流下,对808 nm高功率量子阱激光器进行老化实验,发现在老化过程中一些劣质器件电噪声谱密度呈下降趋势,产生退火效应.本文应用初始性缺陷(高温高能条件下所形成的缺陷)和非初始性缺陷理论,探讨了器件发生退火及早期失效的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石英学	集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学电子科学与工程学院	1	2	1.0	1.0
2	李靖	集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学电子科学与工程学院	2	13	2.0	2.0
3	郭树旭	集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学电子科学与工程学院	2	4	2.0	2.0
4	张素梅	集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学电子科学与工程学院	3	14	2.0	3.0
5	王雪丹	集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学电子科学与工程学院	1	2	1.0	1.0
6	石家纬		5	39	3.0	5.0