精确研究光电离散射截面的新方法

• 作者: 孙卫国 程延松 马晓光
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光电离 散射截面 介电常数
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 第Ⅱ主题 原子、分子、离子、电子间的碰撞过程和相互作用
• 页码范围: 143-144
• 页数: 2页
• 分类号: O562.4
• 字数: 1526字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2004.z1.049

摘要

利用单个原子精确的光电离散射截面和物质的复介电常数,并考虑一定的分子力学模型,可以对凝聚态物质中的原子光电离截面进行定量研究.孙卫国等最近提出了一套研究真实体系中原子光电离截面的新方法.本文首次应用它们来研究碱土金属钠在不同密度状态下的光电离截面,结果表明新的光电离截面公式比著名的孤立原子光电离截面公式更具有优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙卫国	四川大学原子分子物理研究所	92	400	11.0	16.0
2	马晓光	四川大学原子分子物理研究所	3	1	1.0	1.0
3	程延松	四川大学原子分子物理研究所	3	1	1.0	1.0