管状熔断器的典型失效模式和失效原因分析

• 作者: 张延伟
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 熔断器 失效 可靠性
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TM563+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.03.010

摘要

管状熔断器是目前在电路设计中广泛采用的一种过流保护元件,分析了管状熔断器的熔断原理,总结了管状熔断器的典型失效模式和失效原因,给出管状熔断器的一般失效分析程序.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张延伟	中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心	24	105	6.0	9.0