片式膜电阻器的典型失效模式、机理及原因分析

• 作者: 陈德舜
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 片式膜电阻器 工艺流程 失效模式 失效机理 失效分析
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TM54+.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.03.001

摘要

首先,对片式膜电阻器的结构和工艺流程进行了简单的介绍;然后,对片式膜电阻器典型的失效模式和失效机理进行了总结;最后,通过案例,对片式膜电阻器两种典型的失效现象的原因进行了分析,对于相关工作人员了解片式膜电阻器的失效原因和机理,从而改善其工艺过程具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈德舜		4	4	1.0	2.0