片式膜电阻器过电应力失效模式及机理研究

• 作者: 冯刘洪 陈思纤 龚国刚
• 来源期刊: 物联网技术
• 关键词: 片式膜电阻器 失效模式 失效机理 可靠性
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 学术研究 Academic Forum -- 智能处理与应用 Inteligent Processing and Application
• 页码范围: 88-89,91
• 页数: 3页
• 分类号: TB114
• 语种: 中文
• DOI: 10.16667/j.issn.2095-1302.2016.02.028

摘要

通过对片式膜电阻器在不同环境条件下进行的过电应力试验，研究了其过电应力失效模式及失效机理，为指导用户正确选用片式膜电阻器提供了参考，同时提高了片式膜电阻器的使用可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚国刚		3	4	1.0	2.0
2	冯刘洪		1	1	1.0	1.0
3	陈思纤		1	1	1.0	1.0