某种电阻器长期贮存寿命预测研究

• 作者: 李坤兰
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电阻器 贮存试验 性能参数 贮存寿命 预测
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TM54|TB114.39
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.06.008

摘要

选用某种电阻器在A(寒温)、B(亚湿热)、C(亚湿热)、D(热带海洋)等4地开展了为期120个月的库房贮存试验,跟踪测试了其性能参数.应用灰色预测理论中的灰色GM(1,1)模型,对该种电阻器的贮存寿命进行了预测,结果表明A地的寿命最长,为51年;D地的寿命最短,为41年.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李坤兰		4	9	2.0	3.0