应用GM(1,1)模型研究军用电子元器件的长期贮存寿命

• 作者: 吴福根 李坤兰 杨少华 黄瑞毅
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子元器件 灰色系统理论模型 长期贮存寿命
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.02.006

摘要

现代武器装备"长期贮存,一次使用"的特性,要求装备的各个部件和元器件都具有良好的环境适应性与长期贮存寿命.根据灰色系统理论,以某电阻器为例,应用GM(1,1)模型及其改进模型预测了其长期贮存寿命,所建立的模型具有较好的精度,有一定的参考价值.实践证明:灰色预测方法简单、实用,具有一定的工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴福根	广东工业大学应用物理学院	85	662	14.0	22.0
2	杨少华	广东工业大学应用物理学院	16	439	9.0	16.0
3	黄瑞毅		7	134	6.0	7.0
4	李坤兰		5	34	3.0	5.0