基于加速性能退化的元器件贮存寿命预测

• 作者: 万博 上官芝 付桂翠
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 加速退化 贮存寿命 寿命预测 数据处理
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 32-36
• 页数: 5页
• 分类号: TB114
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.05.008

摘要

提出了基于加速性能退化的元器件贮存寿命预测流程,重点对元器件退化轨迹模型的建立和加速退化试验数据处理方法进行了研究.应用非线性的曲线拟合法来建立退化轨迹模型,并评价其拟合优度.加速退化试验数据的处理主要应用伪寿命分布与加速退化模型拟合的方法,从而外推正常应力水平下元器件的贮存寿命.最后,应用所提出的贮存寿命预测方法对某型钽电容的贮存寿命进行了预测,并验证了该方法具有一定的效用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付桂翠	北京航空航天大学工程系统工程系	22	405	9.0	20.0
2	万博	北京航空航天大学工程系统工程系	5	26	2.0	5.0
3	上官芝	北京航空航天大学工程系统工程系	1	16	1.0	1.0