基于加速退化数据的某导电膜电阻贮存寿命预测方法

• 作者: 周芳 张涛 杨学印 王薇 胡彦平 陈志军
• 来源期刊: 空军工程大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 加速退化数据 贮存寿命 温漂效应 加速模型
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 军用航空
• 页码范围: 46-51
• 页数: 6页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 5328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3516.2019.04.007

摘要

提出了一种基于加速退化数据的某导电膜电阻贮存寿命预测方法.首先对该导电膜电阻采用温度应力进行加速性能退化试验,试验中将该导电膜电阻的总阻值作为反映其性能的指标判据,在不同加速应力水平下得到在线测试和离线测试获取的加速性能退化数据;然后通过引入温度因数去除在线测试数据的温漂效应,再融合在线数据和离线数据进行退化轨迹模型参数辨识,获得该导电膜电阻在各加速应力水平下的伪寿命;然后结合经过修正的三参数温度加速模型评估得到该导电膜电阻在正常应力下的贮存寿命.最终以某导电膜电阻为例验证了所提方法的适用性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张涛	中国运载火箭技术研究院至二级单位北京强度环境研究所	35	46	3.0	4.0
2	陈志军	中国运载火箭技术研究院至二级单位北京强度环境研究所	1	0	0.0	0.0
3	周芳	中国运载火箭技术研究院至二级单位北京强度环境研究所	1	0	0.0	0.0
4	杨学印	中国运载火箭技术研究院至二级单位北京强度环境研究所	1	0	0.0	0.0
5	王薇	中国运载火箭技术研究院至二级单位北京强度环境研究所	1	0	0.0	0.0
6	胡彦平	中国运载火箭技术研究院至二级单位北京强度环境研究所	1	0	0.0	0.0