用加速试验评估器件长期贮存寿命的研究

• 作者: 吕长志 张小玲 李志国 谢雪松
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 加速试验模型 长期贮存 寿命
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 72-75
• 页数: 4页
• 分类号: TB24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.014

摘要

电子元器件长期贮存条件下,主要受到温度、湿度、盐雾气氛等环境应力影响而失效.而将这些影响因素扩大来快速评价器件的长期贮存可靠性是目前器件可靠性研究的重点之一.本文给出了几种常用的加速应力模型及其适用条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志国	北京工业大学电子信息与控制工程学院	57	418	12.0	18.0
2	吕长志	北京工业大学电子信息与控制工程学院	60	471	12.0	18.0
3	谢雪松	北京工业大学电子信息与控制工程学院	66	554	14.0	20.0
4	张小玲	北京工业大学电子信息与控制工程学院	69	447	11.0	18.0