厚膜片式电阻器硫化机理及失效预防

• 作者: 王能极
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: DC/DC模块电源 厚膜片式电阻器 硫化 失效
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TM54
• 字数: 3250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2013.02.010

摘要

通过DC/DC模块电源失效分析和电阻硫化实验,采用扫描电镜和能谱分析等手段,研究了厚膜片式电阻器的硫化机理.结果表明:厚膜片式电阻器端电极和二次保护包覆层之间存在缝隙,空气中的硫化物通过灌封硅胶吸附进入到厚膜片式电阻器内电极,导致内电极材料中的银被硫化,生成电导率低的硫化银,从而使电阻的阻值变大甚至开路.结合DC/DC模块电源提出了几种预防电阻硫化的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王能极		1	7	1.0	1.0