厚膜片状电阻器开路失效分析

• 作者: 雷云燕
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 厚膜片状电阻器 开路失效 波峰焊
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 经验点滴
• 页码范围: 38-38
• 页数: 1页
• 分类号: TN45
• 字数: 726字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2000.03.019

摘要

分析了厚膜片状电阻器波峰焊时开路失效的原因,并提出了相应的解决方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷云燕		1	3	1.0	1.0