片式电阻硫化机理及失效分析

• 作者: 杨玉丽 林春贤
• 来源期刊: 家电科技
• 学科: 工学
• 关键词: 片式电阻 硫化 失效分析
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 特约稿件
• 页码范围: 107-109
• 页数: 3页
• 分类号: TM54
• 字数: 1662字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19784/j.cnki.issn1672-0172.2020.03.017

摘要

针对片式电阻阻值异常问题,采用能谱分析和扫描电镜等手段进行分析,确认是由于片式电阻焊盘处出现硫化现象导致阻值异常,进一步研究了片式电阻硫化机理,并提出了预防电阻硫化的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林春贤		2	0	0.0	0.0
2	杨玉丽		3	0	0.0	0.0