双波透射技术在薄芯片无损检测中的应用

• 作者: 吴文章 牛付林
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 双波透射技术 超声波检测 无损梭测 反射板 薄芯片
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TB551
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.005

摘要

从传统的声学扫描技术在对薄芯片和多层结构检测时所表现的不足引入,主要阐述了双波透射技术在此领域应用的突出优势,介绍了双波透射技术的工作原理及其关键部件反射板的选取,以及双波透射技术的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牛付林		5	41	4.0	5.0
3	吴文章		4	25	3.0	4.0