电子封装失效分析新技术--双波透射SAM

• 作者: 何小琦 古关华 马鑫
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 扫描声学显微镜技术 双波透射 声阻抗 失效分析
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理、失效分析与产品改进
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TH742.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.01.002

摘要

介绍了在反射式SAM技术基础上开发的一种失效分析新技术--双波透射SAM技术的原理和应用特点.该技术依据声波在界面的反射系数R与材料声阻Z的关系,采用双程透射方法,通过入射和反射声波强度的对比分析,对界面缺陷进行定位,它是解决传统反射式SAM技术不能准确探测复杂结构界面缺陷、替代(单波)透射技术的又一新方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何小琦		26	170	9.0	11.0
2	马鑫		12	72	5.0	8.0
3	古关华		3	28	2.0	3.0