ECT技术对成像的影响--用低介电参数物质标定

• 作者: 刘石 王海刚 阎润生 马贵阳
• 来源期刊: 石油化工高等学校学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电容层析成像 低介电参数材料 成像质量 标定
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 化工机械
• 页码范围: 52-54
• 页数: 3页
• 分类号: TP216
• 字数: 1502字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-396X.2004.01.013

摘要

电容层析成像技术是20世纪80年代发展起来的一种多相流参数检测技术.它是利用多相介质具有不同的介电常数,通过电容传感器测量获得介电常数分布而获得介质分布的图像.可以用来测量多相流尤其是气固两相流的流动分布,该方法具有快速,不干扰流场、结构简单、无辐射、成本低的特点.但该方法对于测量低介电参数材料固体流动或稀相流动比较困难.提出使用更低介电参数的物质进行标定,可以提高ECT的成像效果.应用Ansoft仿真软件计算了方形管道内存在圆棒时的成像效果,比较了用高低不同介电参数物质进行标定的成像效果,通过方形传感器验证了该结论的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马贵阳	辽宁石油化工大学机械工程学院	234	1235	16.0	22.0
2	刘石	中国科学院工程热物理研究所	72	1309	19.0	32.0
3	阎润生	中国科学院工程热物理研究所	9	124	4.0	9.0
4	王海刚	中国科学院工程热物理研究所	35	751	13.0	27.0