三维表面微观形貌的二维功率谱表征

• 作者: 李成贵
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 表面粗糙度 二维功率谱 表面微观形貌 二维FFT
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 11-15
• 页数: 5页
• 分类号: TB92
• 字数: 2625字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.2004.01.003

摘要

二维谱分析在工程表面的研究中是有效和实用的,在介绍二维快速傅里叶变换基本概念的基础上,推导出了二维功率谱、角谱和半径谱在三维表面形貌中的应用计算方法,并对一些有代表性的精加工表面试件进行了实验研究.结论表明,二维谱分析技术可以表征表面纹理的方向性和不同波长对表面粗糙度高度均方根的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成贵	北京航空航天大学自动化学院测控系	91	890	16.0	25.0