热处理对Y2O3:Eu荧光薄膜结晶性能的影响

• 作者: 张晓松 李岚 邹开顺 陶怡
• 来源期刊: 天津理工学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 热处理 Y2O3:Eu荧光薄膜 结晶性能 退火 FED
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TB383
• 字数: 2130字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-095X.2004.01.006

摘要

运用热处理方法对电子束蒸发制备的Y2O3:Eu荧光薄膜进行不同条件下的退火处理.用X射线衍射等手段表征Y2O3:Eu荧光薄膜的成分、结构、表面形貌.实验表明随着温度的升高,薄膜的结晶状况得到改善,提高了薄膜的结晶性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李岚	天津理工学院材料物理研究所	31	187	8.0	12.0
3	张晓松	天津理工学院材料物理研究所	21	91	7.0	9.0
4	陶怡	天津理工学院材料物理研究所	6	44	4.0	6.0
5	邹开顺	天津理工学院材料物理研究所	10	53	5.0	7.0