pn-周期二元序列的线性复杂度与k-错线性复杂度

• 作者: 牛志华 肖国镇 董庆宽
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 流密码 周期序列 线性复杂度 k-错线性复杂度
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 622-625
• 页数: 4页
• 分类号: TN918.4
• 字数: 3616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2004.04.031

摘要

密码学意义上强的序列不仅应该具有足够高的线性复杂度,而且当少量比特发生变化时不会引起线性复杂度的急剧下降,即具有足够高的k-错线性复杂度.基于xpn-1在GF(2)上的分解式非常明确和简单的事实,研究了周期为pn的二元序列线性复杂度和k-错线性复杂度之间的关系,给出了k-错线性复杂度严格小于线性复杂度的一个充分必要条件,给出了使得LC(S+E)＜LC(S)成立的用错误多项式EN(x)表达的一个充分条件,给出了使得LCk(S)＜LC(S)成立的最小的k值(即最小错误minerror(S))的一个上界,这里p为奇素数,z是模p2的本原根.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖国镇	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	164	1508	20.0	35.0
2	董庆宽	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	25	170	7.0	12.0
3	牛志华	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	6	51	4.0	6.0