全密封机箱的热设计研究

• 作者: 陈小宁 魏汉军
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 全密封机箱 热设计 电磁屏蔽
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 49-51
• 页数: 3页
• 分类号: TN06
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.05.014

摘要

某雷达全密封机箱采用新的设计方法,可以达到良好的电磁屏蔽性能,使设备能够在一定的环境温度下正常工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈小宁	中国电子科技集团公司第二十研究所	6	26	3.0	5.0
2	魏汉军	中国电子科技集团公司第二十研究所	1	12	1.0	1.0