X射线粉末衍射法分析石墨插层化合物的结构

• 作者: 余国忠 张秀兰 栗印环
• 来源期刊: 信阳师范学院学报(自然科学版)
• 学科: 化学
• 关键词: X射线衍射 石墨层间化合物(GIC) 石墨
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 基础理论研究
• 页码范围: 183-185
• 页数: 3页
• 分类号: O64
• 字数: 1967字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0972.2004.02.019

摘要

根据X射线粉末衍射谱图,对经不同方式处理的石墨的结构进行分析,用对比方法比较了它们衍射谱图中衍射峰位置和强度的差异,分析其原因,进而判断它们的结构特征.结果表明可以利用适当的方法使一些非碳反应物插入石墨层间,从而制成石墨层间化合物(GIC),改善其性能,扩大其应用领域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余国忠	信阳师范学院城市与环境科学系	90	550	13.0	17.0
2	张秀兰	信阳师范学院化学化工学院	53	350	10.0	15.0
3	栗印环	信阳师范学院化学化工学院	46	353	11.0	15.0