斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究

• 作者: 任中京 江海鹰 窦彦玲
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 斜投影 显微图像分析 三维重构 体视学
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 颗粒测试
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2004.02.006

摘要

与传统正投影显微图像分析方法不同,本文应用斜投影法,通过变换观测颗粒群的角度,依据获得的光学显微镜下颗粒群的信息,推导出了颗粒群厚度的计算公式,并讨论了厚度分辨能力与倾斜角、放大倍数之间的关系,同时应用实例证明了该方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任中京	济南大学颗粒测试研究所	10	119	6.0	10.0
2	江海鹰	济南大学颗粒测试研究所	14	80	5.0	8.0
3	窦彦玲	济南大学颗粒测试研究所	1	8	1.0	1.0