用发射光谱技术测定高纯氧化钼产品中铁、镍、钛和铬的含量

• 作者: 赵昱
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 工学
• 关键词: 发射光谱 高纯氧化钼 铁 镍 钛 铬
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TF841.2
• 字数: 1919字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2004.04.012

摘要

探讨了用ICP-AES技术测定高纯氧化钼产品中的铁、镍、钛和铬的含量的条件,并对共存元素光谱干扰及其消除进行研究,建立分析方法.分析结果准确、快速,有较好的精密度和准确度,可用于高纯氧化钼产品中的这些杂质的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵昱		5	20	3.0	4.0