高亮度发光二极管多层结构外延片电化学C-V测试分析

• 作者: 刘颂豪 孙慧卿 范广涵
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子学 ECV 肖特基结 微分电容 电解液
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 光电技术与材料
• 页码范围: 542-544
• 页数: 3页
• 分类号: TN312.8
• 字数: 2296字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2004.04.030

摘要

本文介绍了利用ECV的方法测试分析双异质结多层结构外延片方法,在测试厚度、掺杂浓度、导电类型等材料的结构参数过程中,解决了外延片参数不稳定时的测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范广涵	华南师范大学光电子材料技术研究所	147	1064	16.0	26.0
2	刘颂豪	华南师范大学光电子材料技术研究所	308	3297	27.0	39.0
3	孙慧卿	华南师范大学光电子材料技术研究所	25	272	9.0	16.0