滤片-XRD探测系统响应时间测量

• 作者: 孙可煦 崔延莉 易荣清 李朝光 江少恩 黄翼翔
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 软X射线 能谱 X射线二极管 响应时间
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 1558-1562
• 页数: 5页
• 分类号: TN151.1
• 字数: 2919字
• 语种: 中文

摘要

研究了软X射线能谱仪探测道系统(系统包括X射线二极管(XRD)、SUJ-50-10电缆和不同频带示波器)的响应时间.实验利用上海激光联合实验室的20TW激光器激光(激光能量约20J,脉冲宽度约1ps)打金箔靶产生的X光,用XRD探测系统测量,记录示波器有TK684C,TK694C和WM8500等.将实验数据进行了线性拟合和比对分析.滤片-XRD探测系统的响应时间随偏压升高而加快,随传输电缆长度的增加而变慢,因此测量快信号过程时,应提高探测器偏压,缩短传输电缆,选择宽频带高采样率示波器,以便减少系统的响应时间,减小信号失真程度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江少恩	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	93	288	9.0	12.0
2	孙可煦	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	14	40	3.0	5.0
3	李朝光	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	11	34	4.0	5.0
4	易荣清	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	35	109	5.0	8.0
5	崔延莉	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	13	37	3.0	5.0
6	黄翼翔	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	6	18	2.0	4.0