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共模与差模传导干扰分析及抑制技术
共模与差模传导干扰分析及抑制技术
作者:
孙伟国
权修桥
田锦
邱扬
原文服务方:
电子质量
电磁兼容
电磁干扰
共模干扰
差模干扰
抑制技术
摘要:
电磁兼容(EMC)问题越来越受到人们的重视,而解决电磁兼容问题的实质则是如何抑制电磁干扰(EMI),电磁干扰主要分为共模干扰和差模干扰.本文首先介绍了电磁干扰的形式及起因,接着提出了测量和判别干扰模式的方法,最后对其分别提出了抑制技术并举了个在实际中进行抑制的例子.
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文献信息
篇名
共模与差模传导干扰分析及抑制技术
来源期刊
电子质量
学科
关键词
电磁兼容
电磁干扰
共模干扰
差模干扰
抑制技术
年,卷(期)
2004,(10)
所属期刊栏目
EMC
研究方向
页码范围
18-20
页数
3页
分类号
TN972
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2004.10.010
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
邱扬
西安电子科技大学机电工程学院
65
461
12.0
19.0
2
田锦
西安电子科技大学机电工程学院
41
301
11.0
15.0
3
孙伟国
西安电子科技大学机电工程学院
11
43
3.0
6.0
4
权修桥
西安电子科技大学机电工程学院
4
27
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引证文献(3)
二级引证文献(0)
2017(2)
引证文献(1)
二级引证文献(1)
2018(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
电磁兼容
电磁干扰
共模干扰
差模干扰
抑制技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1980-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
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