ETX嵌入式计算机在测试中的应用

• 作者: 李力 杨明 王厚军
• 来源期刊: 四川大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: ETX 嵌入式计算机 测试
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 页码范围: 202-205
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 1872字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2004.z1.048

摘要

嵌入式计算机在应用中具有很强的灵活性和可扩展性.本文介绍了采用ETX标准的ETX嵌入式计算机的特点.并以逻辑分析议为例,介绍了其在测试中的应用.实践表明ETX模块能很好的满足测试应用中的各种要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李力	电子科技大学自动化工程学院	62	335	9.0	15.0
2	王厚军	电子科技大学自动化工程学院	257	2532	27.0	36.0
3	杨明	电子科技大学自动化工程学院	9	12	2.0	3.0