PXI平台简介与高速量测模块同步之探讨

• 作者: 徐常益
• 来源期刊: 世界仪表与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 电子制造技术 同步 PXI平台 集成电路 电子元件 高速 测试平台 量测 模块 体积
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 页码范围: 65
• 页数: 1页
• 分类号: TH133

摘要

随着电子制造技术的日益发展．集成电路的功能变得越来越复杂．而体积却越来越小．因此对制造测试电子元件的厂商而言，如何以最快时间建造出最具竞争力的测试平台．的确是一门不小的学问。