X射线荧光光谱法测定转炉渣主要成份

• 作者: 宋兆华 武映梅 谢桂龙
• 来源期刊: 科学技术与工程
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 光谱干扰 基本效应 渣
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 535-541
• 页数: 7页
• 分类号: O657.31
• 字数: 2727字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1815.2004.07.007

摘要

利用X射线荧光光谱仪测定转炉渣中的TFe、SiO2、CaO、MgO、MnO、P2O5、Al2O3等主要化学成份的含量.采用自制标样绘制工作曲线,利用光谱干扰校正系数和基本效应校正系数消除光谱干扰和基体效应.实验表明:该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学分析结果一致.