概率统计函数在工件表面形貌分析中的应用

• 作者: 张明 徐宁 邢彦峰
• 来源期刊: 现代制造工程
• 学科: 数学
• 关键词: 自相关函数 功率谱密度函数 工件表面形貌
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表与检测
• 页码范围: 58-59
• 页数: 2页
• 分类号: O123
• 字数: 2067字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-3133.2004.03.027

摘要

介绍概率统计函数中的自相关函数(ACF)和功率谱密度函数(PSD)在工件形貌分析中的应用.运用自相关函数和功率谱密度函数,可以识别机械加工后工件表面的特征,判断其中是否含有周期信号以及它们的频率,还可以反映出不同频率的成分在整个信号中所占的比重,从而估计在加工过程中各种因素特别是变化着的因素对表面加工质量的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明	山东理工大学精密模具省重点实验室	13	85	7.0	9.0
2	徐宁	山东理工大学精密模具省重点实验室	6	50	4.0	6.0
3	邢彦峰	山东理工大学精密模具省重点实验室	2	24	2.0	2.0