非接触式全场三维激光ESPI与Shearography(NDT)测试技术

• 作者: 王幼玲
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 激光十涉 电子散斑干涉 数字化全息技术 非接触测量
• 年，卷（期）: 2004,（z6）
• 所属期刊栏目: 激光与光纤
• 页码范围: 149-152
• 页数: 4页
• 分类号: TJ0
• 字数: 3224字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.z6.040

摘要

本文介绍最新激光电子散斑干涉技术ESPI与Shearography激光错位检测技术的基本原理及其应用.该技术足近十年间发展起来的最新的光测技术,它们的特点是非接触式全场三维测试,适用于新材料研究、电子元器件与构件的力学性能试验、振动测试及无损检测.国外的应用表明,ESPI技术可以提供快速、全场、三维的测试信息,能解决许多目前电测方法所不能解决的复杂问题,是目前具有广泛工程应用前景的先进的光测技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王幼玲		2	19	1.0	2.0