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单片机的EMC测试及EMC故障排除
单片机的EMC测试及EMC故障排除
作者:
范伟
韩双霞
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
EMC测试
EMC故障排除
EMC新器件应用
单片机
摘要:
讲述EMC的定义,EMC在单片机应用系统的测试方法,EMC新器件新材料的应用以及故障排除技术.只要从事电子产品的研发、生产或者供应,就必须进行EMC电磁兼容的检测工作.
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文献信息
篇名
单片机的EMC测试及EMC故障排除
来源期刊
单片机与嵌入式系统应用
学科
关键词
EMC测试
EMC故障排除
EMC新器件应用
单片机
年,卷(期)
2004,(8)
所属期刊栏目
专题论述
研究方向
页码范围
14-17
页数
4页
分类号
字数
4947字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1009-623X.2004.08.004
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
范伟
21
50
4.0
6.0
2
韩双霞
3
18
2.0
3.0
传播情况
被引次数趋势
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2012(1)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
EMC测试
EMC故障排除
EMC新器件应用
单片机
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
单片机与嵌入式系统应用
主办单位:
北京航空航天大学
出版周期:
月刊
ISSN:
1009-623X
CN:
11-4530/V
开本:
大16开
出版地:
北京海淀区学院路37号《单片机与嵌入式系统应用》杂志社
邮发代号:
2-765
创刊时间:
2001
语种:
chi
出版文献量(篇)
7244
总下载数(次)
21
总被引数(次)
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