基于Talbot效应和moire条纹的CCD精细拼接理论研究

• 作者: 王虎 苗兴华
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: CCD Talbot效应 moire条纹 焦平面拼接
• 年，卷（期）: 2004,（z6）
• 所属期刊栏目: 光电探测技术
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TJ0
• 字数: 1780字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.z6.012

摘要

在空间探测等领域,要想得到像元尺寸小、像元数多且价格便宜的CCD器件是比较困难的.目前解决的方法主要采用两片或多片CCD通过拼接来实现,故而在拼接时,错位量的准确移动直接影响着拼接后的整体效果.本文只用一块光栅和DⅡ-180°直角棱镜相结合并利用Talbot效应和moire条纹来进行CCD精细拼接.拼接精度可达到单个像元尺寸的1/20.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王虎	中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室	36	264	9.0	14.0
5	苗兴华	中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室	7	117	6.0	7.0