合肥光源逐圈测量系统试验结果及其在注入调试中的应用

• 作者: 刘建宏 刘祖平 孙葆根 尚雷 徐宏亮 李为民 杨永良 王琳 王筠华 贡顶 郑凯
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 逐圈束流位置测量 衰减率 局部凸轨 残余β振荡
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 粒子束及加速器技术
• 页码范围: 101-104
• 页数: 4页
• 分类号: TL594
• 字数: 427字
• 语种: 中文

摘要

介绍了合肥光源(HLS)逐圈束流位置测量系统在升级后的注入系统联调中的作用.该逐圈测量系统信号处理器采用对数比电路,数据获取采用NI5102 ADC.为了保证长达2s数据获取,采样数据通过突发的DMA方式实时写入工控机的系统内存.注入Kicker用作为激励束流,以便监测衰减率和研究β振荡.