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摘要:
通过使用扫描电镜(SEM),X射线光电子能谱(XPS)技术来研究树形分子键合剂(DBA)对CL-20晶体的粘附性能及其界面相互作用机理.实验表明了树形分子键合剂可以在CL-20表面形成一层吸附层,具有良好的粘附性能,X射线光电子能谱的化学位移也表明了键合剂与CL-20的N元素发生诱导效应.
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文献信息
篇名 CL-20与树形分子键合剂的粘附性能研究
来源期刊 含能材料 学科 化学
关键词 材料学 树形分子键合剂(DBA) CL-20 粘附性能
年,卷(期) 2004,(4) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 199-202
页数 4页 分类号 TQ564|O643|V512
字数 2220字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-9941.2004.04.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗运军 北京理工大学材料科学与工程学院 379 4457 30.0 42.0
2 谭惠民 北京理工大学材料科学与工程学院 309 4391 32.0 46.0
3 潘碧峰 北京理工大学材料科学与工程学院 6 97 5.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
材料学
树形分子键合剂(DBA)
CL-20
粘附性能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
含能材料
月刊
1006-9941
51-1489/TK
大16开
四川省绵阳市919信箱310分箱
62-31
1993
chi
出版文献量(篇)
3821
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6
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23008
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