光耦器件瞬态饱和对微机保护装置的影响及对策

• 作者: 程利军 蔡敏
• 来源期刊: 电力系统自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 微机保护 瞬态饱和 光耦器件 快速瞬变脉冲群
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 研制与开发
• 页码范围: 72-75
• 页数: 4页
• 分类号: TM774
• 字数: 2970字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1026.2004.08.017

摘要

提出在快速瞬变扰动的作用下,光耦器件将产生瞬时饱和现象.指出瞬变扰动从直流电源、交流电流、电压端口施加时,即使开关量输入没有任何信号,光耦器件的输出也一直存在电平跌落、再恢复的过程,该过程伴随着每一个瞬变脉中,相当于光耦器件已经导通,影响开关量输入的正确性.光耦器件用于串行口、开关量输出等回路时也存在上述现象.因此认为光耦器件瞬时饱和现象是普遍存在的,对微机保护装置影响较大,同时提出基于硬件、软件的解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程利军		3	73	3.0	3.0