高功率激光薄膜及相关检测技术

• 作者: 于杰 唐明 王震 胡建平 邱服民 马平
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 激光薄膜 检测技术 高功率 薄膜元件 电场强度分布 激光损伤 系统指标 测量平台
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 413-414
• 页数: 2页
• 分类号: TN244

摘要

由于基频光最后需通过三倍频元件才注入靶室，因此三倍频薄膜元件的抗激光损伤能力，将直接制约系统的能量。三倍频紫外激光薄膜的质量也将是决定系统指标的关键因素之一。在制备紫外增透膜方面，我们在基片和膜堆之间加镀缓冲层，既实现了高透射率，又改善了膜层内的电场强度分布。多次实验表明，样品在小口径元件损伤测量平台上测得的零几率损伤阈值一般大于7／cm^2（355m，10s），折算到3S约4．6／cm^2，折算到1ns为3．13／cm^2。考虑到大光束的破坏结果和小光斑的测量结果不同，我们在星光装置上进行大光束轰击破坏实验。